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      首頁  產品信息 材料分析設備 原子力顯微鏡 NT-MDT原子力顯微鏡

    原子力顯微鏡

    NT-MDT原子力顯微鏡定制型 原子力顯微鏡——高性價比掃描探針顯微鏡SPM高速控制器金剛石NV色心掃描成像顯微鏡(金剛石氮空位磁測量裝置)原子力顯微鏡掃描探針——金剛石NV色心傳感器 顯示全部
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    NT-MDT原子力顯微鏡

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    自1998年以來,NT-MDT已成功地將AFM與光學顯微鏡和光譜技術相集成。支持包括HybriD ModeTM在內的30多種基本和高級AFM模式,可提供有關樣品表面物理性質的廣泛信息。 AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成提供了有關樣品的更多信息。


    完全相同的樣品區域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關樣品物理性質(AFM)和化學成分(Raman)的補充信息。


    NTEGRA Spectra II借助尖端增強拉曼散射(TERS),可以進行納米級分辨率的光譜學/顯微術。特制的AFM探針(納米天線)可用于TERS,以增強和定位尖端頂端附近納米級區域的光。


    這種納米天線充當光的“納米源”,從而提供了光學成像的可能性,其分辨率小于衍射極限(max?10 nm)。掃描近場光學顯微鏡(SNOM)是獲得旋光性樣品的光學和光譜圖像的另一種方法,其分辨率受探針孔徑大?。?100 nm)限制。

    NT-MDT 原子力顯微鏡系統光路圖


    所有可能的激發/檢測和TERS的解決方案

    應用

    CdS納米線通過導電聚合物納米線與金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結構上。 由于AFM探針的形狀,激光可以直接定位在尖端頂點上。

    高分辨率AFM圖像可提供有關樣品形貌的信息。 從同一區域獲取的拉曼圖和發光圖顯示出納米線化學成分的差異。


    光學圖片

                                              

                    原子力顯微鏡掃描圖                       拉曼掃描圖                                熒光掃描圖                                    拉曼譜

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    產品標簽:原子力顯微鏡,TERS,二維材料,半導體,晶圓,納米材料,納米器件,NT,MDT,原子力顯微鏡,針尖增強拉曼散射,原位AFM,TERS,AFM+Raman,NT,MDT