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      首頁  產品信息 材料分析設備 原子力顯微鏡 掃描探針顯微鏡SPM高速控制器

    原子力顯微鏡

    NT-MDT原子力顯微鏡定制型 原子力顯微鏡——高性價比掃描探針顯微鏡SPM高速控制器金剛石NV色心掃描成像顯微鏡(金剛石氮空位磁測量裝置)原子力顯微鏡掃描探針——金剛石NV色心傳感器 顯示全部
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    掃描探針顯微鏡SPM高速控制器

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    尖端的D/A和A/D轉換技術,先進的多DSP高速SPM控制系統

    所屬類別:材料分析設備 ? 原子力顯微鏡

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    產品負責人:

    姓名:谷工(Givin)

    電話:185 1625 1863(微信同號)

    郵箱:zonghao-gu@auniontech.com


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    掃描探針顯微鏡SPM高速控制器

    Anfatec推出全新的掃描探針顯微鏡SPM控制器開發集成了尖端的D/A和A/D轉換技術,成為一個獨特的多DSP系統。在接觸和動態模式下,數字實時反饋環路提供了約1us的延遲性能。同步數字掃描發生器與可編程輸出濾波保證絕對無抖動圖像。智能數據采集功能可以消除用戶機械系統引起的圖像非線性。


    快速Z軸閉環
    快速ADC輸入> 500 MHz 采樣率, 16 Bit分辨率@20 MHz帶寬;
    單通道輸入——DC檢測和放大檢測 
    快速DAC輸出低噪聲, 18 bit 分辨率超快DAC輸出
    數字反饋型自調節反饋參數PI控制
    32 bit 內部信號寬度,40MHz 內閉環
    動態模式規格 獨特的同步濾波,在依賴于懸臂梁共振頻率的情況下提供了優化的高速。
    多用性-每個信號都可以用作輸入信號
    - DAC輸出和輸入信號可以獨立翻轉
    反饋模式該軟件提供了七種不同的反饋類型,從通過AFM接觸的線性STM反饋和動態模式到PLL反饋
    掃描發生器
    掃描模式標準掃描模式與傳統的超掃描(程序生成)快速掃描模式與專門的輸出濾波(FPGA生成)
    快速掃描模式FPGA實時獨立掃描發生器

    二階低通濾波

    輸出在標準DAC的用戶定義行同步和圖像同步偏移可用(改善圖像線性)

    大像素率:> 1 MHz系統負載檢查->安全操作

    標準掃描模式線性斜坡輸出拋物線超掃描在標準掃描模式大像素率:40kHz


    低壓信號
    輸入/輸出范圍(所有通道)-10 V—10 V / BNC 連接器
    標準ADC/DAC8 通道 ADC 和 8 通道 DAC
    24 Bit 分辨率@156 kHz 采樣率 
    DAC噪聲: 200 nV ,ADC噪聲: < 0.3 mV



    高壓放大器

    Anfatec的控制器通常是為客戶特殊的實驗設置而設計的。集成的高壓放大器是一個有用的選擇,因為它允許我們在帶寬、輸出電壓和所需通道的數量方面使它們適應您的壓電掃描儀。下表中給出的數字是用戶應該從中選擇其應用程序所需的值的可能值


    通道三通道的堆棧掃描器或五通道的管掃描器
    輸出電壓零對稱或非零對稱 ± 250 V
    例如 -10 V to 150 V, -200 V to 200 V or 差分輸出 -70 V to 70 V
    技術參數Z帶寬: 1 MHz
    放大和輸出噪聲取決于高壓放大器的類型。
    典型輸出噪聲: < 500 nV/sqrt(Hz). 


    粗定位選項——種類繁多,靈活的解決方案

    類似于高壓放大器,在每個顯微鏡的粗運動是獨特的解決方案。我們提供各種集成的解決方案:

    Slip-Stick運動定義一個斜坡高度和所需的上升和下降的時間快和慢斜坡連接電容驅動-我們將根據您的要求設計電氣參數
    步進電機多達三個2相步進電機可以運行在“水平站模式”或作為X-Y-Z運動。這里,我們根據您的要求調整驅動電流。
    直流電機我們提供直流電機運行的脈沖寬度調制輸出。
    第三方粗糙定位系統由其他供應商生產并通過USB或串行連接操作的平臺(例如來自Newport的Agilis站)可以在軟件中實現,這樣它們的操作就好像它們是系統的一部分



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    產品標簽:掃描探針顯微鏡,scanning probe microscope,SPM,AFM,原子力顯微鏡,力調制顯微鏡,相位檢測顯微鏡,靜電力顯微鏡,電容掃描顯微鏡,熱掃描顯微鏡,近場光隧道掃描顯微鏡

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