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      首頁  產品信息 材料分析設備 材料用光學顯微鏡 全功能X射線顯微鏡

    材料用光學顯微鏡

    超分辨光學顯微鏡(SMAL微球放大技術)納米表面輪廓儀全功能X射線顯微鏡NIOS納米機械測試/原位納米壓痕儀 顯示全部
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    全功能X射線顯微鏡

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    全功能X射線成像和元素分析mapping的研究型X射線顯微鏡

    所屬類別:材料分析設備 ? 材料用光學顯微鏡

    所屬品牌:

    產品負責人:

    姓名:谷工(Givin)

    電話:185 1625 1863(微信同號)

    郵箱:zonghao-gu@auniontech.com


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      姓名:谷工(Givin)

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      郵箱: zonghao-gu@auniontech.com

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    X射線顯微鏡

    研究型X射線顯微鏡XROS MF30,使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針,獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統也集成光學顯微鏡,X射線攝影,局部元素XRF微分析,元素mapping等功能。


    儀器特點:

    微焦點X射線管

    用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

    一組基本的輻射濾波器

    攝像機用于選擇分析區域

    用于分析區域調查的光學數碼顯微鏡

    光學顯微鏡軸線與x射線探針軸線相結合

    工作距離的自動選擇系統

    自動X、Y坐標取樣臺,用于分析區域的定位和掃描

    分析單元沿Z軸的自動移動

    射線檢查用探測器

    用于局部XRF分析的硅漂移檢測器

    用于分析輕元素的真空測量室

    內置的自動X光管水冷卻系統



    軟件:

    • 高壓發生器

    • 采樣和波束定位

    • 真空



    局部元素分析與元素填圖

    • 用一個經認證的樣品進行校正

    • 一個校準曲線與幾個認證的樣品

    • 特征線能量和強度的測定

    • 定性半定量分析(基本參數法)

    • 從光譜庫中尋找類似物進行光譜比較

    • 用戶定義樣例區域的元素映射mapping

    • 光譜和映射結果存儲到數據文件

    • 對存儲的光譜進行比較,減法,歸一化

    • 在光學和射線圖像上疊加光譜映射圖像結果

    • 自動分析在用戶定義的點的樣本



    X射線攝影

    • 數字亮度和對比度控制

    • 縮放

    • 測量圖像點間的距離



    記錄和數據存儲
    • 在數據庫中存儲圖像

    • 保存測量結果并導出到其他Windows程序

    • 數字化圖像記錄到外部媒體

    • 圖像和協議打印


     


    設計


     
    1.  一組可更換輻射濾光片(12個)

    2. X射線管

    3. 內置水冷系統

    4. 硅漂移探測器

    5. 回看攝像機

    6. 光學顯微鏡軸與微探針軸結合(銳度自動調節)

    7. 光學顯微鏡(手動調整銳度)

    8. 樣品臺(XY位移,精度10um)




    束源

    微焦點X射線管:




    • X射線管zui大電壓

    45 kV
    • X射線管zui大功率

    500 W
    • 陽極材料

    Mo, other by request

    用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡


    • X射線光束直徑



    30 - 1 000 μm

    一組基本的光束濾波器

    Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl


    光學研究

    光學數字顯微鏡:




    200х


    樣品定位和mapping

    用攝像機選擇分析區域

    光學顯微鏡結合X射線探頭的軸線來控制分析區域

    樣品和探針移動系統:
    • 工作距離自動選擇系統

    • 分析單元沿Z軸移動

    Z軸定位精度
    12 μm
    • 一個自動階段的XY對象定位和掃描在一個用戶定義的樣本區域XY定位精度


    10 μm
    • zui大掃描區域

    150x150 mm
    • zui大樣品尺寸

    300х210х100 mm
    • zui大樣品重量

    1 kg


    X射線熒光分析

    局部元素分析用能量色散半導體探測器

    • 硅漂移探測器 (SDD)


    • 在Mn線上的探測器的能量分辨率

    <150 eV
    • 光譜范圍

    1 - 40 keV
    • zui大計數率

    1 000 000 cps
    • 濃度范圍

    from 1 ppm to 100%


     X射線攝影
     用于射線照相研究的通過樣本輻射傳輸的點探測器(可選ccd探測器)



    分析單元

    電源 

    230 V, 50 Hz

    Size (W x D x H)

    615 x 665 x 650 mm

    Weight

    85 kg


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    產品標簽:X射線顯微鏡,X射線三維顯微鏡,臺式X射線顯微鏡,X射線成像,透射式X射線顯微鏡,X射線成像顯微鏡,X射線分析顯微鏡,軟X光顯微鏡,軟X射線顯微鏡