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      首頁  產品信息 光學檢測設備 膜厚測量儀 膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)

    膜厚測量儀

    膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)Mprobe 20 單點薄膜測量儀激光干涉膜厚測量儀半導體/薄膜無損檢測儀多波長橢偏儀/膜厚測量儀 顯示全部
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    膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)

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    膜厚測量儀

    MProbe - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY


    美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃級分辨率,非接觸式無損快速測量。廣泛應用在各種生產或研究中,比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層,觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。


    測量原理:當指定波長范圍的光照射到薄膜上時,從不同界面上反射的光相位不同,從而引起干涉導致強度相長或相消。而這種強度的振蕩是與薄膜的結構相關的。通過對這種振蕩擬合和傅里葉變換就可獲得樣品厚度和相關的光學常數。



    比如:

    半導體(硅,單晶硅,多晶硅)

    半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)

    微電子機械(MEMS)

    氧化物/氮化物

    光刻膠

    硬涂層(碳化硅,類金剛石炭)

    聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

    高分子聚合物


    MProbe膜厚測量儀操作簡單,只需一鍵操作即可獲得樣品的厚度、折射率(n, k)和表面粗糙度等信息,膜厚測量設備可支持不同光譜范圍,光譜范圍可達200-1700nm,因此可測量厚度范圍可從1nm到2mm。 設備中無移動組件,所以測量結果幾乎是即時得到的;TFCompanion測量軟件使得測量過程非常簡單且透明,測量歷史、動態測量、模擬、顏色分析、直接在樣品圖像上顯示結果。


    分類:


    1、單點膜厚測量——MPROBE-20

    MPROBE-20膜厚測量儀是一款臺式單點膜厚測量設備,設備操作簡單,一鍵獲得樣品的厚度和折射率,并可提供不同波段范圍(適用于不同厚度薄膜)選擇。MPROBE-20具有以下幾種型號,客戶可根據自己所需的波長范圍和薄膜厚度進行選擇。

    可供選擇型號:

    型號

    波長范圍

    測量厚度范圍

    VIS

    200nm -1100nm

    10nm – 75 μm

    UVVISSR

    700nm -1100nm

    1nm -75μm

    VIS-HR

    900nm-1700nm

    1μm-400μm

    NIR

    200nm-800nm

    50nm – 85μm

    UVVisF

    200nm -1700nm

    1nm – 5μm

    UVVISNIR

    1500nm-1550nm

    1nm -75μm

    NIRHR

    200nm -1100nm

    10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)


    2、單點手持膜厚測量——MPROBE HC

    MPROBE HC膜厚測量儀是一款基于MPROBE-20平臺開發專用于測量曲面和大型零件上的涂層,用手動探針代替樣品臺。


    主要參數:

    精度

    0.01nm0.01%

    準確度

    0.2%1nm

    穩定性

    0.02nm0.03%

    聚焦點尺寸

    0.2mm0.4mm

    樣品尺寸

    >25mm

    厚度范圍

    0.05-70um


    3、聚焦光斑膜厚測量儀——MPROBE 40

    MPROBE 40是一款聚焦的小光斑膜厚測量系統,該產品將顯微系統和膜厚測量設備結合起來,用于對膜厚的微區測量,光斑可達2μm。該設備集成相機和軟件,可精確顯示待測位置,并同時顯示測量結果。

    該設備有不同波長范圍可選,可供選擇的產品型號如下:


    4、原位測量膜厚測量儀——MPROBE 50 INSITU

    MPROBE 50 INSITU是一款支持原位測量膜厚測量儀,該設備采用門控數據采集方式因此可以在高環境光的條件下工作。此外該型號膜厚測量儀支持定制以滿足不同形狀的真空腔。根據可用的光學窗口,支持斜入射和垂直入射。光線可以聚焦樣品表面或準直,探測探頭可以放置在沉積室光學端口內部或外部,由于該膜厚測量儀沒有移動部件,通常測量時間約10ms。

    此外該型號還有多種波段范圍可選,可供選擇型號如下


    5、支持Mapping的聚焦膜厚測量儀——MPROBE 60

    MPROBE 60是一款聚焦并可做mapping的膜厚測量設備,重復精度可達0.01nm,精度可達1nm,mapping面積可達300*300mm。并支持多種波長范圍可選。

    可選波長型號:


    6、在線膜厚測量儀——MProbe 70

    MProbe 70是一款高性能膜厚測量儀,主要設計用于24/7生產線上的連續測量。該設備主要有兩種配置一個是在產線上配備多個固定的探頭,第二種是將探頭裝在掃描儀上掃描。


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    產品標簽:膜厚測量儀,膜厚儀,薄膜厚度測量,多層膜測量,