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      首頁  產品信息 激光量測設備 波前分析儀 SID4-UV-HR 高分辨率 紫外 波前傳感器/ 波前分析儀

    波前分析儀

    SID4 標準型 波前傳感器/波前分析儀SID4-HR 高分辨率 波前傳感器/波前分析儀SID4-V 真空兼容 波前分析儀SID4-UHR大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀SID4-UV 紫外 波前傳感器/波前分析儀SID4-UV-HR 高分辨率 紫外 波前傳感器/ 波前分析儀SID4-SWIR 短波近紅外波前傳感器SID4-SWIR-HR 高分辨率 短波紅外 波前傳感器SID4-NIR 近紅外 波前傳感器 / 波前分析儀SID4-DWIR 中遠紅外 波前傳感器/波前分析儀SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器 / 波前分析儀R-Cube光源模塊高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器高分辨率相位成像相機高靈敏度等離子體分析儀超低讀出噪聲高速波前傳感器 顯示全部
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    SID4-UV-HR 高分辨率 紫外 波前傳感器/ 波前分析儀

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    低至190nm波長的紫外波前傳感器

    所屬類別:激光量測設備 ? 波前分析儀

    所屬品牌:法國Phasics公司

    產品負責人:

    姓名:沈工(Max)

    電話:185 1673 5322(微信同號)

    郵箱:xin-shen@auniontech.com


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    SID4-UV-HR 紫外波前傳感器/波前分析儀


    【SID4-UV-HR簡介】


    隨著光波波前探測技術的發展,各種波前傳感器應運而生。從測量原理上可以分成兩類:一類是根據幾何光學原理,測定波前幾何像差或面型誤差,主要有Shack-Hartmann 波前傳感器,曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等;另一類是基于干涉測量原理,探測波前不同部分的干涉性,來獲取波前信息,主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標準鏡;它們結構簡單,抗干擾能力強,條紋穩定。它是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器,SID4-UV-HR非常適合于紫外光學測量,包括用于光刻或半導體應用紫外激光表征,以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。



    【關于Phasics


    Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業經驗與獨特的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。


     一、 SID4-UV-HR 波前傳感器主要特點


    • 低至190nm波長感光靈敏

    • 1  nm RMS高相位靈敏度

    • 355 x 280超高相位取樣分辨率



    二、SID4-UV-HR 波前傳感器產品功能


    • 波前像差測量


    基于其專有的專利技術,Phasics 的波前傳感器同時提供具有無與倫比的高分辨率的相位和強度測量。 波前傳感器與其光束分析軟件相結合,可提供完整的激光診斷:波前像差、強度分布、激光光束質量參數(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學裝置的任何一點,無論光束是準直的還是發散的。作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器,SID4-UV非常適合于紫外光學測量,包括用于光刻或半導體應用紫外激光表征,以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。

             


    三、SID4-UV-HR 波前傳感器應用領域


    紫外光學測量| 光刻或半導體應用紫外激光表征| 透鏡和晶圓的表面面型檢測| 自適應光學


    四、SID4-UV-HR 波前傳感器主要規格

    波長范圍190 - 400 nm
    靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2
    空間分辨率38.88 μm
    取樣分辨率355 x 280
    相位分辨率1 nm RMS
    絕對精度10 nm RMS
    取樣速度30 fps
    實時處理速度> 3 fps (全分辨率下)*
    接口種類CameraLink



    五、更多參數選型