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    光彈調制器

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    托卡馬克專用光彈調制器

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    光彈調制器


    通常對偏振態進行測量時,如果只使用一個光彈調制器,則需要進行兩次測量才能得到全部的信息,即在光彈調制完成第一測量后,需要旋轉45度在進行一次同樣的測量。雙光彈調制器則只需一次測量即可得到所需信息,這就是實時測量成為可能。


    Hinds Instruments提供多種雙光彈調制器的選項,型號如下:

    ?PEM 100 I/FS50-60

    ?PEM 100 II/FS20-23

    ?PEM 100 II/FS42-47

    ?PEM 100 II/ZS37-50


    I/FS50-40(I/FS50-55, I/FS47-50)使用I系列光彈調制器。系列I的光學部件為八邊形,口徑有限,適用于較小光斑。因此,當只有一束激光入射時,I系列光彈調制器一般可以滿足要求。


    II/FS20-23和II/FS42-47系統同樣為熔融石英材料,在170nm到2.6um擁有高透射率。兩種型號在可見光和近紅外都適用。II/FS20-23系統擁有更大的口徑。如果光斑較大或者是多束光束時可以選擇II/FS20-23。雙光彈調制器通常用于測量斯托克斯量,用于測量氘原子發射到托卡馬克等離子體的光束的偏振態。II/42-47也可用于測量斯托克斯量并且擁有更加緊湊的光學頭。II/ZS37-50為光學頭材料為ZnSe,波長范圍為2-18um,用于近紅外光譜,頁可用于寬帶光源或者近紅外激光,例如CO2激光器。


    多數雙光彈調制器系統使用系列II光彈調制器。系列II能夠滿足高要求的偏振態調制,并提供超大口徑對稱的延遲。

    和其他Hinds光彈調制器一樣,雙光彈調制器的特點包括:入射角范圍大(> ± 20 degrees),在一個寬波長范圍內有很好的透射率,高損傷閾值和高偏振靈敏度。


    選項

    反射膜(ARC),定制

    獨特的光彈調制器支架(UPM)

    特殊的矯正選項(SCO)

    特殊的頻率選項(SFO)


    詢問表格

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