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    偏振 | 雙折射成像設備

    成像型穆勒矩陣測量系統雙折射顯微成像系統(abrio替代產品)定量雙折射成像系統 顯示全部
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    定量雙折射成像系統

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    CRIAbrio成像系統提供了一種獨特的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統方法繁瑣且耗時。Abrio技術通過自動化定量極化顯微鏡的過程,打開了雙折射成像的大門,允許你準確地計算出每一個像素在幾秒內的延遲幅度和方向

     

    可檢測樣品

    l  光學材料

    l  玻璃

    l  聚合物

    l  硅片

    l  薄膜

    l 

    l  石墨

     

    特征:

    l  每像素定量延遲數據

    l  操作簡便,交互軟件

    l  快速圖像采集(3s每幅)

    l  延遲靈敏度到0.02nm

     

     

     

    ABRIO成像系統

    可視化和測量透射物體、反射物體(如玻璃,水晶,塑料,光纖,鋁等)雙折射結構,幾秒內實現所有像素點成像。該系統包含的外設顯微鏡綜合了獨特的液晶偏振光對比技術,控制電路,成像算法和交互式軟件。

     

    定量雙折射數據

    空間分辨率,數據采集速率,測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統成為分析注塑件,制造中的聚合物纖維,細胞生物學中的微觀結構和制藥工業中的化合物的應力和應變的理想工具。

    自動的延遲量和方位角數據

    系統將自動計算樣本圖像中每個像素的延遲和方位數據。 原始數據和計算數據都可以存儲用于記錄和審查。

    背景更正

    系統將使用算法自動計算背景信息,以獲得高靈敏度和準確度。

    偏振方向無關

    獨特的CRIAbrio成像技術,偏振圖像是獨立于偏振器或標本的方向。 這導致了亮度,細節和清晰度均勻的圖像。

    快速圖像采集

    CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內生成處理后的圖像

    無移動部件

    不需要手動操作偏振片或樣品。 計算機控制的基于液晶的光學系統可以產生完美的像素到像素圖像配準和準確的偏振控制。

    全面的軟件分析工具

    軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數,

    包含:

    ?線掃描

    ?偽彩色覆蓋

    ?單像素測量

    ?矢量疊加

    ?閾值

    ?面積計算

     

    系統部件

     

    基于液晶的偏振補償器

    Abrio光學系統的核心是液晶(LC)組件,它可以改變光線的偏振態,而不會使部件運動,產生噪聲,最重要的是沒有圖像偏移。

     

    綠色帶通濾光片

    當通過目鏡觀察時,546納米濾光片將使圖像呈現高對比度綠色,這對于LC偏振補償光學器件是必不可少的。

     

    圓偏振片

    圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號。

     

    光耦合器

    在顯微鏡的相機端口和ccd相機之間放置0.45x0.5x光耦合器。 這增加了入射CCD的光量,從而減少了圖像捕獲時間。

     

    CCD相機,計算機和顯示器

    這些組件和預安裝的PCI板卡允許您捕捉數字圖像。數字圖像可以進行處理,歸檔,導出或檢索,而不會損失質量。




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    產品標簽:CRI,ABRIO,雙折射成像,顯微成像,偏振成像,Hinds