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      首頁  產品信息 光學檢測設備 反射率測量設備 光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量)

    反射率測量設備

    光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量)反射標準板 顯示全部
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    光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量)

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    光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術,主要用于測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬分之一量級!


    光腔衰蕩光譜方法通過對指數型的腔內衰蕩信號的檢測,擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差。由兩片99.99% 反射率組成的光腔對損耗的測量精度可達ppm量級。


    應用領域:

    高反射鍍膜層損耗的精密測量

    正入射反射率R>>99%的平面或凹面光學元件的損耗測量

    精度dR/R<2ppm @ R>99.5%

    檢測用激光波長可選(如355nm…532nm…633nm…1064nm…1319nm

     

    測量原理:

    脈沖光或快速開關的連續光耦合進諧振腔

    待測膜層在每次往返光程中經反射產生損耗

    時間相關的輸出信號的測量得到衰蕩數據

    脈沖光往返時間已知,根據衰蕩的時間特點,得到反射率

     

    技術指標:

    測量反射率:    R>>99%

    精度:              dR/R < 2ppm @ R>99.5%

    樣品/基底要求*:  ?1”Or 0.5”, 厚度~6mm

    基底透明,后表面平面拋光

    *0o正入射測量,其他要求可訂制。

    供電電源:

    激光器              100~240VAC, 50~60Hz

    探測器              +/-9 VDC

    接口:              USB 2.0

    含數據采集, A-D轉換,數據處理等模塊。軟件包括反射率分析、生產數據錄入及處理等。

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